Logger Script DVT30-1MM - GigaProbes ::NUBICOM::
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프로브 테스트 솔루션

DVT30-1MM

Fine Pitch용 TDR 프로브

DVT30-1MMCart
DVT30-1MM Gigaprobe®는 Differential TDR 100Ω, Single TDR 50 Ω 변환 가능한 멀티모드 30GHz TDR 프로브로 Odd/Even mode 임피던스를 정확하게 측정할 수 있습니다. 금도금된 Diamond Tip에 의한 뛰어난 접촉 특성은 TDR 측정시 프로브 접촉으로 인한 임피던스 불연속 지점이 최소화 되고, 프로브 Tip이 작아 접촉부분이 0.5 mm 이하 이므로 매우 짧은 길이의 IC package를 분석하는 데에도 적합합니다.

Probe Tip pitch가 0.25 mm ~ 2.0 mm 까지 자유롭게 가변 가능하고 자주 사용되는 0.8 mm, 1.0 mm, 1.27 mm Pitch는 제공되는 Pitch calibration wrench로 정밀하게 조정할 수 있습니다.

전도성 다이아몬드 도금 기술은 금과 니켈로 도금된 미세한 100여 개의 날카로운 다이아몬드를 팁(Tip)에 접착한 것입니다. 팁(Tip) 자체가 산화되지 않으며 접촉시 PCB 패드의 산화막을 뚫고 프로빙 되어 10 g의 아주 적은 힘으로도 어느 각도에서 든 완벽한 프로빙 접촉을 할 수 있게 합니다. 이는 솔딩(Soldering)을 한 것과 같이 정확하고 반복 가능한 TDR 측정을 할 수 있게 해줍니다.
DVT30-1MM
DVT30-1MM GigaProbes®완벽한 TDR/TDT Interconnect 프로빙 키트
주요 특장점
  • 30 GHz 대역폭
  • True Odd Mode 100ohm 디퍼런셜 임피던스
  • 50 Ω Single-end 프로브로 전환 가능
  • TDR 측정 시작점의 불연속 20 mV 이하
  • 프로브의 Fall Time이 20 ps 이내
  • Ground Contact 없이 완전한 Balanced Differential 측정
  • 프로브 Pitch 0.25 mm ~ 2.0 mm 가변
  • 프로브 팁(Tip) 직경 0.254 mm
  • 금도금된 전도성 다이아몬드 프로브 팁으로 안정적인 TDR 측정
  • 10 g 이하의 적은 힘으로 완벽한 프로빙
  • 한 개의 프로브로 4가지 용도로 사용: 100 Ω, 50 Ω Hand-held. 프로브 Positioner에 연결한 보다 안정적인 프로빙
  • 프로브 Pitch 조절을 위한 도구 기본 제공
주요 어플리케이션
  • Single Ended, Differential Insertion, 반사손실 S-파라미터 계산: TDR과 Tektronix IConnect® Software를 이용한 주파수 도메인 분석에 최적화된 성능
  • 임피던스 측정: TDR 장비 단독 또는 보다 정밀한 TDR 임피던스 분석을 위한 IConnect® SW를 이용한 IC 패키지, 케이블, 커넥터, PCB와 Backplane 테스트.
  • IC 패키지의 오류 분석: TDR을 이용한 불량 지점 비파괴 탐색
주요 특성
  • Attenuation: 1x
  • Probe only BW: 30 GHz
  • TDR Degradation: <5 ps
  • Probe Pitch: 0.25 mm ~ 2.0 mm
  • Connector Type: SMA
  • Measured Reflected TDR Fall Time: 20 ps
  • Impedance: 100 Ω differential, 50 Ω common mode
  • Max Voltage: 5.0 V
제품 구성
DVT30-1MM GigaProbes®는 액세서리와 함께 견고한 보관용 케이스에 제공되며, DVT30-1MM GigaProbes® 키트는 다음과 같이 구성되어 있습니다. (DVT30-1MM-1 One probe kit는 Probe 1 개와 관련 액세서리로 구성)
  • Qty 2: 30 GHz TDR Probes (patent pending) Convertible to Single 50 Ω or Differential 100 Ω, with gold plated Conductive Diamond probe tips for repeatable high-bandwidth TDR measurements when probing at ANY angle
  • Qty 2: GPMMA Attaches probe to Tektronix PPM100, PPM203B Articulating arms or any standard micro-positioner (그림2)
  • Qty 1: Stainless Steel 110mm Tweezers for Fine Pitch Probe Adjustments and used to attach ground lead to convert probe to 50 Ω
  • Qty 1: Desk-Top 5X Macro-Lens Inspection Station
  • Qty 1: Model 10 SMA Wrench (patent pending) with Quick Calibrator Holes to set probe pitch and planarize probes to 0.8 mm, 1.0 mm, or 1.27 mm (그림3)
  • Qty 2: Hand Held Probe Sleeve Adapters with EZ-Hold Foam Cushions (그림1)
  • Qty 4: Right Angle SMA Elbows for easy routing of TDR of SMA cables (그림 1)
  • Qty 1: 50 ohm conversion kit includes 2 SMA shorting caps, ground strap and shrink wrap.
  • Qty 4: Cable 24GHz 12” SMA-SMA Cables
  • Qty 1: Resource CD with IConnect® application notes, data sheets
DVT30-1MM
그림 1. 편리한 Hand Held 프로빙:
EZ-hold 쿠션 어댑터를 사용하여 미세한 간격의 포인트에 쉽게 프로빙
DVT30-1MM
그림 2. Tektronix의 PPM100 Articulating Arm에 직접 연결한 모습:
기본 구성품인 GPMMA 어댑터를이용해 보다 고대역의 정밀한 TDR 측정. 제조사에 상관 없이 모든 종류의 Probe Manipulator 에 연결 가능
DVT30-1MM
그림 3. Signal-Signal Pitch Calibration:
Model 10 SMA 교정 렌치로 빈번히 사용하는 0.8 mm, 1.0 mm, 1.27 mm 간격을 조정. 프로빙 위치를 조정하고 이외의 다양한 간격을 정밀하게 조정하기 위해서는 기본 포함된 트위저와 탁상용 확대경 사용
DVT30-1MM
그림 4. Gold Plated Conductive Diamond Probe Tips:
프로브 팁의 100여개의 금도금된 날카로운 다이아몬드 팁은프로빙을 했을 때, PCB pad 표면의 산화막을 뚫게 되어 솔더링을 한 것과 같은 완벽한 접촉이 된다. 도전성 다이아몬드 팁은 어느 각도에서 프로빙을 하여도 안정된 접촉을 하게 됨
DVT30-1MM
그림 5. Tektronix DSA8200 TDR system:
Gigaprobe®는 80E10, 80E08, 80E04에 직접 연결. PPM100과 같은 Articulating arm을 사용하여 보다 안정적으로 프로빙
DVT30-1MM
그림 6. Differential Rise Time:
9ps TDR pulser 출력을 DSA8200과 50 GHz module로 측정한 Gigaprobe의 RiseTime. 대역폭이 30 GHz를 상회.
DVT30-1MM
그림 7. 프로브 2개를 이용한 측정:
2 port Single & Differential S-parameter 또는 TDT 측정을 위한 셋업
DVT30-1MM
그림 8. 다양한 Probe Manipulator 로 수직 프로빙
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