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NI 반도체 테스트 시스템 Semiconductor Test System

NI STS로 테스트 비용 절감

PXI 기반의 NI 반도체 테스트 시스템(STS)은 RF 및 혼합 신호 테스트를 위해 모듈형 계측과 시스템 설계 소프트웨어를 결합하였습니다.

STS 상세정보 다운로드

반도체 양산 환경에 최적화

NI STS는 NI PXI 플랫폼을 통해 반도체 양산 환경에 적합한 개방성과 유연성을 제공합니다. STS에는 양산 테스트 셀에 쉽게 통합할 수 있도록 핸들러/프로버 통합, 스프링 프로브 DUT 인터페이스, STDF 데이터 리포팅, 시스템 교정 등의 다양한 기능이 포함되어 있습니다.

주요 내용

STS 내부 기술 상세보기

STS 내부 기술 상세보기

STS를 사용하면 반도체 양산 테스트 환경에 NI PXI를 얼마나 편리하게 통합할 수 있는지 확인하십시오.

동영상 보기

테스트 비용 절감

테스트 비용 절감

IDT사가 STS를 사용하여 어떻게 테스트 비용을 절감하고 테스트 커버리지를 확대하여 변화하는 테스트 요구사항에 대응했는지 확인하십시오.

사례 연구 보기

STS로 RFIC 테스트하기

STS로 RFIC 테스트하기

RF 전력 증폭기 및 RF 프런트엔드 모듈에 사용할 수 있는 다양한 STS 기능을 살펴보십시오.

자세히 알아보기

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